1. 利用XEOL、TR-XEOL和HB-T interferometer研究寬能隙半導體材料裡color centers的放光特性。
2. 使用XRF mapping和XAS量測技術，研究樣品元素分佈情形與價態變化性質。
3. 協助TPS 23A光束線之運轉與維護。
4. 協助用戶調光與實驗架設。
5. 光束線及實驗站相關儀器維護及功能提升。
計畫內容:
(1) 利用同步輻射TPS 23A X-ray nanoprobe技術，以其優異的空間解析能力，使用X光激發光致螢光(XEOL)和時間解析X光激發光致螢光(TR-XEOL)與Hanbury-Brown and Twiss(HB-T) interferometer結合，探討寬能隙半導體材料裡color centers的放光特性，進而開發應用於量子通訊的單光子源材料。
(2) 開發TPS 23A X-ray nanoprobe光束線之量測技術，開拓下世代新穎放光材料之研究平台。
(3) 參與此計畫之研發替代役人員，將充分學到X-ray nanoprobe、XEOL、TR-XEOL、XAS、XRF和HB-T等實驗技術與知識，對於之後不論是學術界或業界工作都有實質的助益。
(4) 歡迎來信詢問更詳細的研究與工作內容。