News / In Focus

台灣光子源, 奈米X光繞射
首篇使用台灣光子源發表之研究成果已登載在國際期刊
-
2017/01/13

        本中心榮譽退休講座張石麟院士的研究團隊近期於國際期刊Optics Express發表「High-resolution interference-monochromator for hard X-rays」,這是首篇使用台灣光子源光束線實驗設施發表的研究成果,也為台灣光子源的科學研究打響第一砲。

        該研究團隊利用台灣光子源(TPS)時間同調X光光束線(09A),以背向繞射法(backward diffraction),針對能量14.4388 keV之X光,以Si(12 4 0)背向反射設計X光單模共振單光儀(single-mode interference monochromator)。共振單光儀由兩光學元件組成,先以硬X光法布立-培若干涉儀(Fabry-Perot interferometer)產生梳狀穿透干涉能譜,再結合同處背向繞射條件下之反射式雙晶單光儀,利用背向繞射穿透能譜與反射能譜之共軛特性,篩選出梳狀共振能譜中單一干涉模態,實現硬X光單模干涉單光儀。由於干涉儀與雙晶單光儀之晶板尺寸皆為微米等級,故可利用微影蝕刻技術製造於矽晶圓上。此外,該共振單光儀具備能譜調變能力,藉由調變樣品溫度改變矽單晶晶格常數,可在繞射光學幾何條件不改變的情況下使背向繞射與共振發生能量產生偏移。經該研究團隊實際量測,結果顯示能量解析度可以達到3.45 meV(FWHM),配合70K的溫度變化區間,可使能譜可調變範圍達到2500 meV。