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繞射與散射
X光散射技術是常用的非破壞性檢測技術,可用於量測物質的晶體結構、化學組成以及各種物理性質。X光散射能譜主要是分析樣品散射後的X光強度、波形來得到樣品的訊息。
散射包含彈性及非彈性兩個部分。彈性散射一般又稱為繞射,主要是與物質長程有序的晶體結構有關,可以用來分析分子的結構及形態。非彈性散射的部分,一般則可以得到粉末顆粒或薄膜的密度、厚度、粒子大小及形貌等訊息。

分析技術 檢測分析 代表光束線
X光單晶繞射 單晶結構、方向、缺陷 BL07A1BL13A1BL17A1BL17B1
X光粉末繞射 相鑑定 BL01C2BL17A1
X光掠角繞射 薄膜結構、晶向 BL07A1BL17B1
X光(非)鏡像散射 膜厚、介面粗糙度 BL07A1BL17A1BL17B1
X光小角度散射 粒子大小與形狀 BL13A1BL23A1
蛋白質結晶學 蛋白質結構 SP12B2BL13B1BL13C1BL15A1
X光非彈性散射 表面與動態分析 BL05A1SP12U1